Kategorie
Sprzedawaj

Konto

Zaloguj się
Utwórz konto

Konto

Zaloguj się
Utwórz konto
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066

Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3 Zweryfikowany sprzedawca

Cena na zapytanie

Zaoferuj cenę
Producent Semilab
Model CMS3
Rok
Lokalizacja Stany Zjednoczone US
Rodzaj Półprzewodniki - metrologia
ID produktu P240314066
Język
bg Машина за вафли Semilab CMS3
cs Waferovací stroj Semilab CMS3
da Semilab CMS3 Wafer maskine
de Semilab CMS3 Waferanlage
el Μηχανή γκοφρέτας Semilab CMS3
en Semilab CMS3 Sheet Resistance Measuring System
es Máquina para wafer Semilab CMS3
fr Machine pour wafer Semilab CMS3
hr Stroj za oblatne Semilab CMS3
hu Semilab CMS3 Ostya gép
it Macchina per wafer Semilab CMS3
lt Vaflių mašina Semilab CMS3
nl Semilab CMS3 Wafelmachine
pl Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3
pt Máquina de wafer Semilab CMS3
ro Aparat pentru napolitane Semilab CMS3
ru Semilab CMS3 Пластина
sr Mašina za vafle Semilab CMS3
sv Semilab CMS3 Wafer maskin
tr Wafer Makinası Semilab CMS3

Dane techniczne

Oprogramowanie
-------------------
Roboczogodziny
Godziny podłączenia do prądu
Stan techniczny dobry
Zgodność z normami CE ---------
Status

Opis

SZYBKA BEZKONTAKTOWA CHARAKTERYSTYKA MATERIAŁU I KONTROLA PROCESU

Rezystancja arkusza emitera jest podstawowym parametrem kontroli jakości wafli krzemowych w zastosowaniach fotowoltaicznych po dyfuzji emitera.

Modele CLS, CLS-1A, CLS-3A i CLS-5A, testery rezystancji arkusza emitera umożliwiają pomiar rezystancji arkusza w 1 do 5 punktach z wysoką przepustowością, która spełnia wymagania kontroli jakości in-line na w pełni zautomatyzowanych liniach produkcyjnych ogniw.

Modele CMS, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers umożliwiają pomiar wafli, tj. przenośnik taśmowy nie zatrzymuje się podczas pomiaru. W związku z tym mają wysoką przepustowość, która spełnia wymagania kontroli jakości in-line w pełni zautomatyzowanych liniach produkcyjnych ogniw.

Cechy i specyfikacje systemu:

Technika pomiaru: bezkontaktowa, fotonapięcie złącza (JPV)
Rozmiar próbki: od 100 do 156 mm (opcja 210 mm)
Struktura próbki: złącza np lub pn
Zakres pomiarowy: 10 Î/sq. do 200 I/sq.
Odległość sondy: 1,5 mm wysokości sondy nad pasem transportowym
Tolerancja pozycji pionowej płytki: < 400 μm
Podparcie próbki: na taśmie
Kalibracja: wafle zweryfikowane za pomocą czteropunktowej sondy
Opcje:

Moduł pomiarowy (w tym głowice pomiarowe rezystancji arkuszy 1A-5A)
Przemysłowy komputer PC (system operacyjny Windows) i urządzenia peryferyjne
Opcjonalny kontroler emiterów CLS-1M
Czujnik obecności płytki (tylko CMS)
Szeroka gama dostępnych interfejsów do automatyzacji i MES:

Optycznie izolowane wejścia/wyjścia 24 V, interfejs Ethernet
Profibus
OPC DA
Protokół TCP/IP, zawartość może być XML lub ASCII
Baza danych SQL
SECS/GEM

Ten opis mógł być przetłumaczony automatycznie. W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt. Informacje zawarte w tym ogłoszeniu mają jedynie charakter orientacyjny. Sugerujemy sprawdzić szczegóły ze sprzedawcą przed dokonaniem zakupu.


Rodzaj klienta Handlarz
Aktywny od 2019
Liczba ofert online 45
Ostatnia aktywność 20 sierpnia 2024

Opis

SZYBKA BEZKONTAKTOWA CHARAKTERYSTYKA MATERIAŁU I KONTROLA PROCESU

Rezystancja arkusza emitera jest podstawowym parametrem kontroli jakości wafli krzemowych w zastosowaniach fotowoltaicznych po dyfuzji emitera.

Modele CLS, CLS-1A, CLS-3A i CLS-5A, testery rezystancji arkusza emitera umożliwiają pomiar rezystancji arkusza w 1 do 5 punktach z wysoką przepustowością, która spełnia wymagania kontroli jakości in-line na w pełni zautomatyzowanych liniach produkcyjnych ogniw.

Modele CMS, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers umożliwiają pomiar wafli, tj. przenośnik taśmowy nie zatrzymuje się podczas pomiaru. W związku z tym mają wysoką przepustowość, która spełnia wymagania kontroli jakości in-line w pełni zautomatyzowanych liniach produkcyjnych ogniw.

Cechy i specyfikacje systemu:

Technika pomiaru: bezkontaktowa, fotonapięcie złącza (JPV)
Rozmiar próbki: od 100 do 156 mm (opcja 210 mm)
Struktura próbki: złącza np lub pn
Zakres pomiarowy: 10 Î/sq. do 200 I/sq.
Odległość sondy: 1,5 mm wysokości sondy nad pasem transportowym
Tolerancja pozycji pionowej płytki: < 400 μm
Podparcie próbki: na taśmie
Kalibracja: wafle zweryfikowane za pomocą czteropunktowej sondy
Opcje:

Moduł pomiarowy (w tym głowice pomiarowe rezystancji arkuszy 1A-5A)
Przemysłowy komputer PC (system operacyjny Windows) i urządzenia peryferyjne
Opcjonalny kontroler emiterów CLS-1M
Czujnik obecności płytki (tylko CMS)
Szeroka gama dostępnych interfejsów do automatyzacji i MES:

Optycznie izolowane wejścia/wyjścia 24 V, interfejs Ethernet
Profibus
OPC DA
Protokół TCP/IP, zawartość może być XML lub ASCII
Baza danych SQL
SECS/GEM

Ten opis mógł być przetłumaczony automatycznie. W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt. Informacje zawarte w tym ogłoszeniu mają jedynie charakter orientacyjny. Sugerujemy sprawdzić szczegóły ze sprzedawcą przed dokonaniem zakupu.

Dane techniczne

Oprogramowanie
-------------------
Roboczogodziny
Godziny podłączenia do prądu
Stan techniczny dobry
Zgodność z normami CE ---------
Status

O sprzedawcy

Rodzaj klienta Handlarz
Aktywny od 2019
Liczba ofert online 45
Ostatnia aktywność 20 sierpnia 2024

Lista podobnych maszyn

Zobaczy alternatywy

Ładowanie podobnych ofert...

Kategorie

menu Kategorie maszyny używane

menu

Sprzedawaj

Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3