Dane techniczne

-------------------
Roboczogodziny
Godziny podłączenia do prądu
Stan techniczny dobry
Zgodność z normami CE ---------
Status do obejrzenia

Opis

Miernik grubości nakładki Fischerscope X-Ray XDVM-W


Typ: XDVM-T7-W

Model systemu X-RAY

Maszyna zgodna z normami CE

Rok budowy 2004

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W może mierzyć grubość powłoki i skład stopu dowolnego systemu powłok metalowych, w tym pojedynczych, dwuskładnikowych i trójskładnikowych powłok stopowych, podwójnych powłok z warstwą stopu lub bez oraz potrójnych powłok.

Ten opis mógł być przetłumaczony automatycznie. W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt. Informacje zawarte w tym ogłoszeniu mają jedynie charakter orientacyjny. Sugerujemy sprawdzić szczegóły ze sprzedawcą przed dokonaniem zakupu.


fischerscope-x-ray-xdvm-w-p220825039_3.pdf Pobierz
Rodzaj klienta Handlarz
Aktywny od 2016
Liczba ofert online 15
Ostatnia aktywność 4 grudnia 2024

Opis

Miernik grubości nakładki Fischerscope X-Ray XDVM-W


Typ: XDVM-T7-W

Model systemu X-RAY

Maszyna zgodna z normami CE

Rok budowy 2004

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W może mierzyć grubość powłoki i skład stopu dowolnego systemu powłok metalowych, w tym pojedynczych, dwuskładnikowych i trójskładnikowych powłok stopowych, podwójnych powłok z warstwą stopu lub bez oraz potrójnych powłok.

Ten opis mógł być przetłumaczony automatycznie. W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt. Informacje zawarte w tym ogłoszeniu mają jedynie charakter orientacyjny. Sugerujemy sprawdzić szczegóły ze sprzedawcą przed dokonaniem zakupu.


Dane techniczne

-------------------
Roboczogodziny
Godziny podłączenia do prądu
Stan techniczny dobry
Zgodność z normami CE ---------
Status do obejrzenia

O sprzedawcy

Rodzaj klienta Handlarz
Aktywny od 2016
Liczba ofert online 15
Ostatnia aktywność 4 grudnia 2024

Lista podobnych maszyn

Fischerscope X-Ray XDVM-W